标准号：NF C96-022-35-2006
中文标准名称：半导体装置.机械和气候试验方法.第35部分:用于塑封电子元件的声学显微方法
英文标准名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35 : acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components.
标准类型：L40
发布日期：2006/12/1 12:00:00
实施日期：2006/12/20 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01
NF C96-022-35-2006 半导体装置.机械和气候试验方法.第35部分:用于塑封电子元件的声学显微方法
百检网 2021-07-15
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