标准号：GB/T 22572-2008
中文标准名称：表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法
英文标准名称：Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials
标准状态：现行
发布日期：2008-12-11
实施日期：2009-10-01
中国标准分类号：G04
国际标准分类号：71.040.40
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
GB/T 22572-2008 表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法 现行
百检网 2021-07-15
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