标准号:GB/T 19403.1-2003
中文标准名称:半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)
英文标准名称:Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)
标准状态:现行
发布日期:2003-11-24
实施日期:2004-08-01
中国标准分类号:L56
国际标准分类号:31.200
归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会