标准号:ASTM F1260M-1996
中文标准名称:集成电路金属喷镀总量和电迁移中值失效时间的评定标准试验方法(米制单位)
英文标准名称:Standard Test Method for Estimating Electromigration Median Time-To-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations [Metric]
标准类型:L55
发布日期:1999/12/31 12:00:00
实施日期:1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号:L55
国际标准分类号:17.220.20 (Measurement of electrical and magnetic