DD ENV 50218-1996 参量化欧洲微型试验芯片的描述

百检网 2021-07-16

标准号：DD ENV 50218-1996
中文标准名称：参量化欧洲微型试验芯片的描述
英文标准名称：Description of a parametrized European mini test chip
标准类型：L55
发布日期：1996/9/15 12:00:00
实施日期：1996/9/15 12:00:00
中国标准分类号：L55
国际标准分类号：31.200
适用范围：Documents the parametrized MOS test structures of the device model Parameter extraction Test Chip (PTC) of the European Mini Test Chip (ETC).

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