ANSI/EIA/TIA 455-173-1990 用光纤侧面观测法测量涂层几何尺寸

百检网 2021-07-16

标准号：ANSI/EIA/TIA 455-173-1990
中文标准名称：用光纤侧面观测法测量涂层几何尺寸
英文标准名称：Coating Geometry Measurement for Optical Fiber Side View Method
标准类型：M33
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：M33
国际标准分类号：33.180.10
适用范围：Describes a procedure for measuring the polarization-mode dispersion (PMD) of single-mode optical fibers. This standard was listed for public review in the 5/5/2000 issue of Standards Action. It is being resubmitted due to substantive changes to the text.

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