IEEE 300-1988 半导体带电粒子探测器试验规程

百检网 2021-07-16

标准号：IEEE 300-1988
中文标准名称：半导体带电粒子探测器试验规程
英文标准名称：Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors
标准类型：F84
发布日期：1988/6/9 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：F84
国际标准分类号：17.240
适用范围：This standard applies to semiconductor radiation detectors that are used for the detection of high-resolution spectroscopy of charged particles.

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