标准号:TS 2552-1977
中文标准名称:半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原则.第2部分:测量方法的一般原则
英文标准名称:Essential Ratings And Characteristics Of Seraiconductor Devices And General Principles Of Measuring Methods Part 2: General Principles Of Measuring Methods
发布日期:1977/1/1 12:00:00
实施日期:1999/12/31 12:00:00