GB/T 14849.5-2014 工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法

标准号：GB/T 14849.5-2014
中文标准名称：工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法
英文标准名称：Methods for chemical analysis of silicon metal.Part 5:Determination of impurity contents.X-ray fluorescence method
标准类型：H12
发布日期：2014/12/5 12:00:00
实施日期：2015/5/1 12:00:00
中国标准分类号：H12
国际标准分类号：77.120.10
引用标准：GB/T 8170
适用范围：GB/T 14849的本部分规定了工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定方法。本部分适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定,测定范围见表1。