标准号：KS D ISO 15632-2012
中文标准名称：微光束分析.带半导体探测器的能量发散X射线分光仪的仪器规范
英文标准名称：Microbeam analysis－Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors
标准类型：N50
发布日期：2012/12/7 12:00:00
实施日期：2012/12/7 12:00:00
中国标准分类号：N50
国际标准分类号：71.040.99
适用范围：이 표준은 반도체 검출기, 전치증폭기, 신호 처리장치와 같은 기본 부품으로 구성된 에너지
KS D ISO 15632-2012 微光束分析.带半导体探测器的能量发散X射线分光仪的仪器规范
百检网 2021-07-19
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