标准号：IEC 60749-7-2011
中文标准名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第7部分:其他残余气体的分析和内部水分含量的测量
英文标准名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
标准类型：L40
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01
IEC 60749-7-2011 半导体器件.机械和气候试验方法.第7部分:其他残余气体的分析和内部水分含量的测量
百检网 2021-07-19
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