标准号:20173474-T-610
中文标准名称:锗单晶位错密度的测试方法
英文标准名称:Test method for dislocation density of monocrystal germanium
标准状态:已发布
标准类型:国标计划
发布日期:1999/12/31 12:00:00
实施日期:1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号:北京国晶辉红外光学科技有限公司
国际标准分类号:77.040
归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门:国家标准化管理委员会
起草单位:有研光电新材料有限责任公司
起草人:张路
相近标准:GB/T 5252-2020 锗单晶位错密度的测试方法; 锗单晶位错密度的测试方法;GB/T 5252-2006 锗单晶位
标准制修订:修订