标准号：GB/T 33236-2016
中文标准名称：多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法
英文标准名称：Polycrystalline silicon—Determination of trace elements—Glow discharge mass spectrometry method
标准状态：现行
标准类型：国家标准
发布日期：2016/12/13 12:00:00
实施日期：2017/11/1 12:00:00
中国标准分类号：G04
国际标准分类号：71.040.40
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
起草单位：中国科学院上海硅酸盐研究所
起草人：钱荣
相近标准：20131705-T-469 多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法;20202774-T-469 锗酸铋(BGO)晶
GB/T 33236-2016 多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法 现行
百检网 2021-07-19
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