标准号:NF ISO 15632-2006
英文标准名称:Microbeam analysis - Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors
标准状态:W
标准类型:国际标准
发布日期:2006-12-05
有效日期:2012-12-28
国际标准分类号:37.020%71.040.99
被以下标准代替:被NF ISO 15632-2012代替