CNS 5541-1988 单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法-电晶体连续动作试验 W

百检网 2021-07-20

标准号：CNS 5541-1988
中文标准名称：单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法-电晶体连续动作试验
英文标准名称：Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Continuous Operation Test of Transistor)
标准状态：W
标准类型：国际标准
发布日期：1988-09-14
有效日期：2017-02-18
国际标准分类号：19.040%19.080%31.080.01

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