标准号:NF C96-022-2-2002
英文标准名称:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2 : low air pressure
标准状态:A
标准类型:国际标准
发布日期:2002-12-05
国际标准分类号:31.080.01
部分代替标准:NF EN 60749-1999%NF C96-022-1999%NF EN 60749/A1-2002%NF C96-022/A1-2002%NF EN 60749/A2-2002%NF C96-022/A2-2002