DIN EN 60749-38-2008 半导体器件.机械和气候试验方法.第38部分:带存储器的半导体器件用软错误试验法

百检网 2021-07-20

标准号：DIN EN 60749-38-2008
中文标准名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第38部分:带存储器的半导体器件用软错误试验法
英文标准名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory (IEC 60749-38:2008); German version EN 60749-38:2008
标准类型：L40
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01

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