BS EN 60749-30-2005+A1-2011 半导体装置.机械和气候耐受性试验方法.非密闭式表面安装设备可靠性试验前预处理

百检网 2021-07-20

标准号：BS EN 60749-30-2005+A1-2011
中文标准名称：半导体装置.机械和气候耐受性试验方法.非密闭式表面安装设备可靠性试验前预处理
英文标准名称：Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
标准类型：L40
发布日期：2006/1/27 12:00:00
实施日期：2006/1/27 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01

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