DIN EN 60749-33-2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第33部分:加速抗湿.无偏压热器

百检网 2021-07-20

标准号：DIN EN 60749-33-2004
中文标准名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第33部分:加速抗湿.无偏压热器
英文标准名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave (IEC 60749-33:2004); German version EN 60749-33:2004
标准类型：L40
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：2004/9/1 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01
适用范围：The unbiased autoclave test is performed to evaluate the moisture resistance integrity of non-hermetic packaged solid-state devices using moisture condensing or moisture saturated steam environments.

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