SJ/T 2658.4-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第4部分：总电容 现行

标准号：SJ/T 2658.4-2015
中文标准名称：半导体红外发射二*管测量方法 第4部分：总电容
标准状态：现行
标准类型：行业标准
发布日期：2015/10/10 12:00:00
实施日期：2016/4/1 12:00:00
中国标准分类号：L53
国际标准分类号：31.080
归口单位：工业和信息化部电子工业标准化研究院
主管部门：工业和信息化部
起草单位：工业和信息化部电子工业标准化研究院
起草人：张戈
相近标准：SJ/T 2658.15-2016  半导体红外发射二*管测量方法 第15部分：热阻;SJ/T 2658.1-2015  半导体
行业分类：无