20141879-T-469 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法 已发布

标准号：20141879-T-469
中文标准名称：太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法
英文标准名称：Test method for determination of crystal defect density in PV silicon ingot and wafer
标准状态：已发布
标准类型：国标计划
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：中国电子技术标准化研究院
国际标准分类号：29.045
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
起草单位：英利集团有限公司
起草人：李英叶
相近标准：GB/T 37051-2018  太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法;GB/T 25074-2017  太阳能级多晶硅;
标准制修订：制订