标准号:DIN50455-2-1999
中文标准名称:半导体技术用材料的试验.表征光敏抗蚀剂的方法.第2部分:阳*光敏抗蚀剂的光敏度的测定
英文标准名称:Testingofmaterialsforsemiconductortechnology-Methodsforthecharacterisationphotoresists-Part2:Determinationofphotosensitivityofpositivephotoresists
中国标准分类号:H80
国际标准分类号:29.045