标准号:TS 2551-1977
中文标准名称:半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原则.第1部分:基本额定值和特性
英文标准名称:ESSENTTAL RATINGS AND CHARACTERIS TICS OF SEMICONDUCTOR DEVICES AND GENERAL PRINCIPLES OF MEASUR?NG METHODS PART I — ESSENTIAL RATINGS AND CHARACTERISTICS
发布日期:1977/1/1 12:00:00
实施日期:1999/12/31 12:00:00