IEC60747-5-3-1997(已作废) 半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法

百检网 2021-07-23

标准号：IEC60747-5-3-1997(已作废)
中文标准名称：半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法
英文标准名称：DiscreteSemiconductorDevicesandIntegratedCircuits-Part5-3:OptoelectronicDevices-MeasuringMethodsDispositifsDiscretsASemiconducteursEtCircuitsIntegres-Partie5-3:DisopsitifsOptoelectroniques-MethodesDeMesureFirstEdition;PatiallyReplacesIEC747-5:1992;Amendme
中国标准分类号：L50
国际标准分类号：31.26

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