IEC60749-4-2017 半导体器件机械和气候试验方法第4部分:稳态湿热强加速应力试验(HAST)

百检网 2021-07-23

标准号：IEC60749-4-2017
中文标准名称：半导体器件机械和气候试验方法第4部分:稳态湿热强加速应力试验(HAST)
英文标准名称：Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part4:Dampheat,steadystate,highlyacceleratedstresstest(HAST)(Edition2.0)
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01
部分代替标准：IEC60749-4-2002

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