标准号：IEC60749-7-2011
中文标准名称：半导体器件机械和气候试验方法第7部分：内部水分含量的测量和其他残余气体的分析
英文标准名称：Semiconductordevices?Mechanicalandclimatictestmethods?Part7:InternalmoisturecontentmeasurementandtheanalysisofotherresidualgasesDispositifs?semiconducteurs?Méthodesessaismécaniquesetclimatiques?Partie7:Mesuredelateneuren
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01
部分代替标准：IEC60749-7-2002
IEC60749-7-2011 半导体器件机械和气候试验方法第7部分：内部水分含量的测量和其他残余气体的分析
百检网 2021-07-23
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