标准号：NFEN60749-4-2002
英文标准名称：Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part4:dampheat,steadystate,highlyacceleratedstresstest(HAST)
国际标准分类号：31.080.01
部分代替标准：NFEN60749-1999(C96-022);
NFEN60749/A1-2002(C96-022/A1);
NFEN60749/A2-2002(C96-022/A2)
NFEN60749-4-2002
百检网 2021-07-27
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