GB/T 20726-2006 半导体探测器X射线能谱仪通则

标准号：GB/T 20726-2006
中文标准名称：半导体探测器X射线能谱仪通则
英文标准名称：Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors
标准类型：N33
发布日期：2006/12/25 12:00:00
实施日期：2007/8/1 12:00:00
中国标准分类号：N33
国际标准分类号：71.040.99
适用范围： 本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪（EDS）特性*重要的量值。本标准仅适用于国态电离作用原理的半导体探测器EDS。本标准只规定了与电子探针（EPMA）或扫描电镜（SEM）联用的此类EDS的*低要求，至于如何实现分析则不在本标准的规定范围之内。