标准号:GB/T 14115-1993
中文标准名称:半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
英文标准名称:General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits
标准类型:L56
发布日期:1993/1/21 12:00:00
实施日期:1993/8/1 12:00:00
中国标准分类号:L56
国际标准分类号:31.200
适用范围: 本标准规定了半导体集成电路采样/保持放大器(以下简称器件)电参数测试方法的基本原理。 本标准适用于半导体集成电路采样/保持放大器的电参数测试。