IEC 60749-35-2006 半导体器件机械和气候试验方法第35部分：塑料包封电子元件用声学显微镜法 A

百检网 2021-07-30

标准号：IEC 60749-35-2006
中文标准名称：半导体器件机械和气候试验方法第35部分：塑料包封电子元件用声学显微镜法
英文标准名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components (Edition 1.0)
标准状态：A
标准类型：国际标准
国际标准分类号：31.080.01

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