标准号:GB/T 5594.4-1985
中文标准名称:电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法
英文标准名称:Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for dielectric loss angle tangent value
标准类型:L32
发布日期:1985/11/27 12:00:00
实施日期:1986/12/1 12:00:00
中国标准分类号:L32
国际标准分类号:31.030
适用范围: 本标准适用于测定电子元器件结构陶瓷材料在频率1MHz,温度从室温至500℃条件下的介质损耗角正切值。