GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理

标准号：GB/T 14032-1992
中文标准名称：半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
英文标准名称：General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits
标准类型：L55
发布日期：1992/12/17 12:00:00
实施日期：1993/8/1 12:00:00
中国标准分类号：L55
国际标准分类号：31.200
适用范围： 本标准规定了半导体集成电路数字锁相环（以下简称器件或数字锁相环）电参数测试方法的基本原理。