标准号:GB/T 17473.3-2008
中文标准名称:微电子技术用贵金属浆料测试方法.方阻测定
英文标准名称:Test method of precious metals pastes used for microelectronics.Determination of sheet resistance
标准类型:H68
发布日期:2008/3/31 12:00:00
实施日期:2008/9/1 12:00:00
中国标准分类号:H68
国际标准分类号:77.120.99
引用标准:GB/T 8170
适用范围:本部分规定了微电子技术用贵金属浆料方阻的测定方法。本部分适用于微电子技术用贵金属浆料方阻的测定。