标准号：KS C IEC 60759-2009
中文标准名称：半导体X射线能谱仪的标准试验程序
英文标准名称：Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
标准类型：F81
发布日期：2009/12/30 12:00:00
实施日期：2009/12/30 12:00:00
中国标准分类号：F81
国际标准分类号：17.240
适用范围：이 표준은 반도체 X-선 에너지 분광계에 대한 표준 시험절차를 제시한다. 해당 계통은 반도
KS C IEC 60759-2009 半导体X射线能谱仪的标准试验程序
百检网 2021-07-31
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