标准号：SJ/T 11399-2009
中文标准名称：半导体发光二*管芯片测试方法
英文标准名称：Measurement methods for chips of light emitting diodes
标准类型：L41;L45
发布日期：2009/11/17 12:00:00
实施日期：2010/1/1 12:00:00
中国标准分类号：L41;L45
国际标准分类号：31.260
引用标准：GB/T 5698-2001;GB/T 11499-2001;GB/T 15651-1995;SJ/T 11394-2009
适用范围：本标准规定了半导体发光二*管芯片的辐射度学、光度学、色度学、电学、热学参数以及电磁兼容性的测试方法。本标准适用于可见光半导体发光二*管芯片。紫外光和红外光发光二*管芯片以及外延片的测试可参考执行。
SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法
百检网 2021-07-31
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