ISO/TR 18392-2005 表面化学分析.X射线光电子光谱学.背景测定程序

百检网 2021-08-02

标准号：ISO/TR 18392-2005
中文标准名称：表面化学分析.X射线光电子光谱学.背景测定程序
英文标准名称：Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Procedures for determining backgrounds
标准类型：G04
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：G04
国际标准分类号：71.040.50
适用范围：This Technical Report gives guidance for determining backgrounds in X-ray photoelectron spectra. The methods of background determination described in this report are applicable for evaluation of spectra of photoelectrons and Auger electrons excited by X-rays from solid surfaces.

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