IEC 60749-16-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第16部分:粒子冲击噪声探测(PIND)

百检网 2021-08-02

标准号：IEC 60749-16-2003
中文标准名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第16部分:粒子冲击噪声探测(PIND)
英文标准名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
标准类型：L40
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01
适用范围：Defines a test aiming at detecting the presence of loose particles inside a cavity device such as, for example, chips of ceramic, pieces of bonding wire or solder balls (prills).

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