标准号:QJ 3217-2005
中文标准名称:潜在分析方法和程序
英文标准名称:Methods and procedures for sneak analysis
标准类型:V04
发布日期:2005/4/11 12:00:00
实施日期:2005/7/1 12:00:00
中国标准分类号:V04
引用标准:GJB 450;GJB 451;QJ 1408A-1998
适用范围: 本标准规定了在航天产品研制过程中应用潜在分析的方法和程序。 本标准主要适用于航天产品电子/电气系统的潜在分析。软件系统、液(气)压管路系统的潜在分析,可参照本标准正文以及附录A、附录B的内容执行。