标准号:ASTM F951-1996
中文标准名称:测定硅片径向晶隙氧变化的标准试验方法
英文标准名称:Standard Test Method for Determination of Radial Interstitial Oxygen Variation in Silicon Wafers
标准类型:L64
发布日期:1999/12/31 12:00:00
实施日期:1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号:L64
国际标准分类号:29.045 (Semiconducting materials)