ASTM F76-1986(2002) 测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法

百检网 2021-08-02

标准号：ASTM F76-1986(2002)
中文标准名称：测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法
英文标准名称：Standard Test Methods for Measuring Resistivity and Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors
标准类型：L40
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：29.045 (Semiconducting materials)

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