ASTM E431-1996(2007) 半导体器件及有关器件的X射线照片说明的标准指南

百检网 2021-08-02

标准号：ASTM E431-1996(2007)
中文标准名称：半导体器件及有关器件的X射线照片说明的标准指南
英文标准名称：Standard Guide to Interpretation of Radiographs of Semiconductors and Related Devices
标准类型：L40
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01 (Semi-conductor devices in general)

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