ASTM F1262M-1995(2008) 数字集成电路瞬态辐射破坏阈试验标准指南(米制单位)

百检网 2021-08-02

标准号：ASTM F1262M-1995(2008)
中文标准名称：数字集成电路瞬态辐射破坏阈试验标准指南(米制单位)
英文标准名称：Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold Testing of Digital Integrated Circuits (Metric)
标准类型：L56
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：L56
国际标准分类号：031.200

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