ASTM F980M-1996 测量硅半导体器件中中子感应位移故障的快速退火用标准指南(米制单位)

百检网 2021-08-02

标准号：ASTM F980M-1996
中文标准名称：测量硅半导体器件中中子感应位移故障的快速退火用标准指南(米制单位)
英文标准名称：Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices [Metric]
标准类型：L40
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：29.045 (Semiconducting materials)

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