ASTM F1261M-1996 薄膜金属直线平均电宽度测定的标准试验方法

百检网 2021-08-03

标准号：ASTM F1261M-1996
中文标准名称：薄膜金属直线平均电宽度测定的标准试验方法
英文标准名称：Standard Test Method for Determining the Average Electrical Width of a Straight, Thin-Film Metal Line [Metric]
标准类型：L40
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01 (Semi-conductor devices in general)

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