标准号：IS 12737-1988
发布日期：1990/2/1 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
适用范围：This standard presents standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers. Such systems consist of a semiconductor radiation detector assembly and signal processing electronics interfaced to a pulse-height analyzer/computer. Test procedures for pulse-height analyzers and computers are not covered in this standard. Clause 5 is essentially tutorial.
IS 12737-1988
百检网 2021-08-03
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