KS C 6049-1980 半导体集成电路试验法和耐久性能试验方法

百检网 2021-08-03

标准号：KS C 6049-1980
中文标准名称：半导体集成电路试验法和耐久性能试验方法
英文标准名称：Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Semiconductor Integrated Circuits
标准类型：K46
发布日期：1980/11/29 12:00:00
实施日期：1980/11/29 12:00:00
中国标准分类号：K46
国际标准分类号：31.080.00
适用范围：이 규격은 주로 산업용 및 민생용 전자기기에 쓰는 집적회로 (혼성 집적회로를 제외함)의 사

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