标准号：DIN EN 60749-40-2012
中文标准名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第40部分:使用应变仪的板级跌落试验方法(IEC 60749-40-2011). 德文版本 EN 60749-40-2011
英文标准名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge (IEC 60749-40:2011); German version EN 60749-40:2011
标准类型：L40
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：2012/2/1 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01
DIN EN 60749-40-2012 半导体器件.机械和气候试验方法.第40部分:使用应变仪的板级跌落试验方法(IEC 60749-40-2011). 德文版本 EN 60749-40-2011
百检网 2021-08-03
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