标准号：BS ISO 14701-2018
中文标准名称：表面化学分析. X射线光电子能谱学. 二氧化硅厚度测量
英文标准名称：Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness
标准类型：G04
发布日期：2018/11/5 12:00:00
实施日期：2018/11/5 12:00:00
中国标准分类号：G04
国际标准分类号：71.040.40
引用标准：ISO 18115-1;ISO 18116;GUM-1995;ISO/TR 18392;ISO/IEC GUIDE 98-3-2008
BS ISO 14701-2018 表面化学分析. X射线光电子能谱学. 二氧化硅厚度测量
百检网 2021-08-03
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