ASTM F1996-2006 薄膜开关电路系统银迁移的标准试验方法

百检网 2021-08-04

标准号：ASTM F1996-2006
中文标准名称：薄膜开关电路系统银迁移的标准试验方法
英文标准名称：Standard Test Method for Silver Migration for Membrane Switch Circuitry
标准类型：L57
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：L57
国际标准分类号：77.120.99 (Other non-ferrous metals and their allo

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