KS D ISO 16700-2013 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南

百检网 2021-08-04

标准号：KS D ISO 16700-2013
中文标准名称：微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
英文标准名称：Microbeam analysis－Scanning electron microscopy－Guidelines for calibrating image magnification
标准类型：N32
发布日期：2013/6/5 12:00:00
实施日期：2013/6/5 12:00:00
中国标准分类号：N32
国际标准分类号：37.020
适用范围：이 표준은 적절한 표준물질을 사용하여 주사전자현미경 영상의 배율을 교정하는 방법을 구체적으

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